第280章 悲催的實驗結果

 為了分析這批芯片是否會因為時間和環境的變化而出現老化，這次實驗持續了整整10天時間，在這一過程當中，“乘黃2”始終處於運行的狀態，而且實驗環境也模擬了冷熱交替，從普通的20c到高溫140c，再到20c，不斷進行循環，溼度也保持在80%以上。 

 一般來說，通過這種極端的環境測試，就可以提前讓芯片老化，其老化程度大約和正常使用1年後相當。從而判斷是否會因為老化而導致整體性能的下降。 

 用於測試的芯片總共有110顆，其中100顆是剛剛生產的全新“乘黃2”芯片。其餘10顆則是從採購到的智貓眼鏡2上拆下來的“兔蓀1號”芯片，這些芯片主要用於對照，來檢驗實驗環境的可行性。 

 當結束老化實驗之後，技術人員將這些芯片一一取出，然後每10顆為一組進行性能壓力測試。這一階段的測試主要就是來判斷芯片在出現老化之後，是否還能夠保持最初的性能。 

 實際上半導體芯片的性能是很難因為老化而下降的，尤其是處理器在正常使用的情況下壽命可以超過10年。大部分處理器一直用到退役也不會出什麼問題。 

 然而當第一組10顆芯片的測試結果出來之後，侯廣來教授的腦門上就冒出冷汗。 

 因為這10顆芯片，居然全部出現了性能下降的現象，最嚴重的的性能下降了80%，最樂觀的也下降了50%左右。 

 看到這一結果，旁邊的技術人員也開始小聲交流，大家的臉色也都不好看。 

 過了好一會兒，侯教授才開口道：“不要停，繼續測試。” 

 第二批10顆芯片的測試結果也很快出爐：這回比第一批更慘，老化最嚴重的一顆已經完全報廢，無法正常使用了。 

 這一結果讓所有人都沉默了，不過侯廣來並沒有示意停止測試，所以技術人員很快就開始了第三組的10顆芯片測試。 

 接下來是第四組、第五組……一直到第十組！ 

 最終結果簡直是觸目驚心，參與測試的100顆“乘黃2”芯片無一倖免，全部都出現了性能大幅下降的現象，即使最輕微的一顆也下降了45%，另外更是有15顆芯片完全報廢。